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產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
五金高溫低溫測試方法高低溫試驗箱：
1.預(yù)處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達(dá)到溫度穩(wěn)定。
2.初步檢測：將測試樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行比較，滿足要求后直接放入高低溫試驗箱。
3、樣品斷電時，試驗樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗箱內(nèi)，試驗箱（室）內(nèi)溫度應(yīng)降至-50℃，保持4小時；不要在樣品通電狀態(tài)下進(jìn)行低溫測試，這一步非常重要，因為芯片本身在通電狀態(tài)下會產(chǎn)生 20℃因此，在通電狀態(tài)下，通常更容易通過低溫試驗，必須先凍透，再通電試驗。
4、在低溫階段結(jié)束后5min將試驗樣品轉(zhuǎn)換為已調(diào)整的樣品90℃保持在高溫試驗箱(室)內(nèi)4h或者直到測試樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，與低溫測試相反，加熱過程不斷電，芯片內(nèi)部溫度保持高溫，4小時后執(zhí)行A、B測試步驟。
5、進(jìn)行老化測試，觀察是否存在數(shù)據(jù)對比錯誤。
6、高溫和低溫試驗分別重復(fù)10次。
7、重復(fù)上述實驗方法，以完成三個循環(huán)。根據(jù)樣品的大小和空間的大小，時間可能略有誤差。
8、恢復(fù):試驗樣品從試驗箱中取出后，應(yīng)在正常試驗大氣條件下恢復(fù)，直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。
9、后檢測：根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中的損傷程度等方法評估檢測結(jié)果。
如果測試過程中沒有正常工作，則視為測試失敗。
