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產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
一、試驗的目的
低氣壓試驗的目的是評估元件、設(shè)備或其他類型的產(chǎn)品在低氣壓條件下存儲、運輸和使用的能力，一般采用恒定壓力條件來模擬相應(yīng)的工作條件。在特殊情況下，還需要評估產(chǎn)品承受空氣壓力快速變化的能力。
對于以下產(chǎn)品，可進(jìn)行低氣壓試驗。
（1）在高海拔地區(qū)存儲/工作的設(shè)備。
（2）在飛機增壓或非增壓艙內(nèi)運輸或工作的設(shè)備。
（3）暴露在快速減壓或爆炸減壓環(huán)境中的設(shè)備。確定暴露在環(huán)境中的裝備故障是否會損壞其平臺或造成人員傷害。
（4）飛機外部掛飛的設(shè)備。
氣壓試驗又分為：高氣壓試驗，低氣壓試驗，高度試驗，高溫試驗。
二、依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)有
低氣壓試驗常依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)有：
GB/T2423.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗M：低氣壓》
GB/T2424.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度（低溫、高溫）低氣壓振動（正弦）綜合試驗導(dǎo)則
GB/T4857.13-1992包裝運輸包裝件低氣壓試驗方法
GB12085.5-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法綜合低溫與低氣壓
GGB/T10590-1989低溫低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備
IEC68-2-41（1976）《基本環(huán)境試驗規(guī)程第二部分試驗試驗Z/BM高溫/低氣壓試驗》
HB5830.14-96《機載設(shè)備環(huán)境條件與試驗方法低氣壓（高度）》
JB3224-83）-使用于高海拔地區(qū)電工產(chǎn)品低氣壓試驗方法
三、對試驗設(shè)備的要求
低氣壓試驗設(shè)備應(yīng)能保持試驗規(guī)定的氣壓值，并保持在規(guī)定的容差范圍內(nèi)，同時也能保持試驗規(guī)定的持續(xù)時間，試驗箱內(nèi)空氣不受輔助設(shè)備和裝置產(chǎn)生的污染。
低氣壓試驗箱應(yīng)有供檢查樣品電性能的接線孔。當(dāng)導(dǎo)線通過箱壁時，應(yīng)保證良好的密封性能，無泄漏，導(dǎo)線本身不損壞斷裂和交叉連接，并具有適當(dāng)?shù)某叽绾徒^緣。
試驗箱應(yīng)具有監(jiān)測活動部件機械性能和電氣性能的裝置。
